電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ka:鹽霧1 范圍
本試驗(yàn)適用于比較具有相似結(jié)構(gòu)的試樣的抗鹽霧腐蝕的能力。本試驗(yàn)也活用干評定保護(hù)性層的質(zhì)量以及均勻性。
a)本試驗(yàn)不適合作為通用的鹽霧腐蝕試驗(yàn);
b)本試驗(yàn)也不適用于在含鹽大氣中使用的單個試樣的評定。
對于設(shè)備以及零部件,試驗(yàn)Kb提供了更符合實(shí)際情況的試驗(yàn)條件以及單個試樣的評定方法,但如果某些情況下為了確保質(zhì)量,相關(guān)規(guī)范要求個別試樣采用本試驗(yàn)方法時(shí),試樣應(yīng)當(dāng)作為整個組件或者設(shè)備的組成部分連固實(shí)際的保護(hù)性設(shè)備(箱體、蓋子、外套等)一起進(jìn)行試驗(yàn)
2 試驗(yàn)設(shè)備
2.1 試驗(yàn)箱
試驗(yàn)箱所用的材料應(yīng)不會影響鹽霧的腐蝕效果。
試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)以及提供鹽霧的方法可以不同,但是必須滿足以下條件:
a)試驗(yàn)箱內(nèi)的條件維持在規(guī)定的容差內(nèi):
b)試驗(yàn)箱應(yīng)具備足夠大的容積,能提供穩(wěn)定的、均一的試驗(yàn)條件(不受湍流的影響),且在試驗(yàn)過
程中這些條件不受試樣的影響;
c)鹽霧不能直接噴射到試樣上;
d)箱頂、箱壁或其他部位集聚的冷凝液不能滴落到試樣上;
c)試驗(yàn)箱應(yīng)排氣良好以防止壓力升高,確保鹽霧分布均勻。排氣孔末端應(yīng)進(jìn)行風(fēng)防護(hù),以避免引
起試驗(yàn)箱內(nèi)產(chǎn)生較強(qiáng)的氣流。
2.2 噴霧裝置
噴霧裝置的設(shè)計(jì)和組成應(yīng)能夠產(chǎn)生細(xì)小、潤濕、濃密的霧,噴霧裝置的材料不能夠與鹽溶液發(fā)生反應(yīng)。
3 鹽霧
3.1 鹽溶液
3.1.1 濃度
試驗(yàn)所用的鹽應(yīng)當(dāng)是高品質(zhì)的氯化鈉,干燥時(shí),碘化鈉的含量不超過0.1%,雜質(zhì)的總含量不超過0.3%。
鹽溶液的濃度應(yīng)為(5±1)%(質(zhì)量比)。
溶液應(yīng)通過以下的方法制備,將質(zhì)量為(5±1)份的鹽溶解在質(zhì)量為95份的蒸餾水或者去離子水中。
3.1.2 pH值
溫度為(35±2)℃時(shí),溶液的pH值應(yīng)在6.5~7.2內(nèi)。
條件試驗(yàn)時(shí),pH值應(yīng)維持在該范圍內(nèi)。在保證氯化鈉濃度的前提下,可以使用鹽酸或者氫氧化鈉
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